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Índice h | 73 | 25 |
Índice i10 | 293 | 67 |
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Coautores
- Patrick Fayelectrical engineering, University of Notre DameEmail confirmado em nd.edu
- Wu Lu, ProfessorThe Ohio State UniversityEmail confirmado em osu.edu
- Liang WangUniversity of Illinois at Urbana-Champaign, Texas InstrumentsEmail confirmado em ti.com
- Paul BohnChemical & Biomolecular Engineering, University of Notre DameEmail confirmado em nd.edu
- Mohamed ArafaSr. Principal Engineer at Intel. Adjunct Professor at ASUEmail confirmado em intel.com
- John A. RogersSimpson/Querrey Professor, Northwestern UniversityEmail confirmado em northwestern.edu
- Deepak SelvanathanEmail confirmado em intel.com
- James KolodzeyUniversity of DelawareEmail confirmado em udel.edu
- Seong Tae-YeonProfessor of Materials Science, Korea UniversityEmail confirmado em korea.ac.kr
- Han-Ki KimSungkyunkwan UniversityEmail confirmado em skku.edu
- Roberto Ricardo PanepucciCornell University, Cornell Nanoscale Science and Technology Facility - CNFEmail confirmado em cti.gov.br
- Sookyung ChoiIntel CorporationEmail confirmado em intel.com
- Khalid IsmailprofessorEmail confirmado em himangel.com
- Sung Mo KangUniversity of California, Santa CruzEmail confirmado em ucsc.edu
- Matt MeitlX Display CompanyEmail confirmado em xdisplay.com
- Grigory SiminUniversity of South CarolinaEmail confirmado em engr.sc.edu
- Bernard MeyersonIBM, 4IRAdvisors, Senzing, NextSiliconEmail confirmado em us.ibm.com
- Remis GaskaUVTON, Inc.Email confirmado em uvton.com
- Sean RommelProfessor, Rochester Institute of TechnologyEmail confirmado em rit.edu
- Hooman MohseniNorthwestern UniversityEmail confirmado em northwestern.edu