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Índice h | 45 | 42 |
Índice i10 | 147 | 128 |
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Com base em autorizações de financiamento
Coautores
- Travis J. AndersonNaval Research LaboratoryEmail confirmado em nrl.navy.mil
- Stephen PeartonProfessor of Materials Science and Engineering, University of FloridaEmail confirmado em mse.ufl.edu
- Andrew D. KoehlerNaval Research LaboratoryEmail confirmado em nrl.navy.mil
- Fan RenUniversity of Florida, Bell Lab, AT&TEmail confirmado em che.ufl.edu
- C.R. Eddy, Jr.Office of Naval Research Global - LondonEmail confirmado em nrl.navy.mil
- Michael MastroUS Naval Research LabEmail confirmado em nrl.navy.mil
- Francis KubNaval Research LaboratoryEmail confirmado em ieee.org
- Jiancheng Yang. PhDKeysight TechnologiesEmail confirmado em keysight.com
- Joshua D. CaldwellVanderbilt UniversityEmail confirmado em vanderbilt.edu
- Patrick H Carey IVUniversity of FloridaEmail confirmado em ufl.edu
- Jihyun KimSeoul National UniversityEmail confirmado em snu.ac.kr
- Chaker FaresPhD. Student, University of FloridaEmail confirmado em ufl.edu
- Nadeemullah MahadikNaval Research LaboratoryEmail confirmado em nrl.navy.mil
- Alan G. JacobsNaval Research LaboratoryEmail confirmado em cornell.edu
- Boris Feigelson and Boris FeygelsonU.S. Naval Research LaboratoryEmail confirmado em nrl.navy.mil
- Minghan XianMicron Technology; University of Florida; University of DelawareEmail confirmado em ufl.edu
- Yuhao ZhangCPES, Virginia TechEmail confirmado em vt.edu
- M. GoorskyUniversity of California, Los AngelesEmail confirmado em seas.ucla.edu
- Jordan GreenleeMicron TechnologyEmail confirmado em gatech.edu
- Samuel GrahamUniversity of MarylandEmail confirmado em umd.edu