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Coautores
- Jan VerspechtResearch Engineer, Keysight Technologies, Inc.Email confirmado em janverspecht.com
- Nicholas TufillaroTuataraEmail confirmado em aquahue.net
- Dominique SchreursProf. in EE, KU LeuvenEmail confirmado em kuleuven.be
- Lee BarfordFellow, Keysight TechnologiesEmail confirmado em keysight.com
- Christian FagerChalmers University of TechnologyEmail confirmado em chalmers.se
- patrick roblinThe Ohio State UniversityEmail confirmado em osu.edu
- Jonathan B Scottuniversity of waikatoEmail confirmado em ieee.org
- Jean-Pierre TeyssierProfessor of RF Electronics, Limoges UniversityEmail confirmado em keysight.com
- Anthony ParkerMacquarie UniversityEmail confirmado em ieee.org
- Paul Juan TaskerCornell, Freiburg, Cardiff, VigoEmail confirmado em cf.ac.uk
- Haedong JangThe Ohio State UniversityEmail confirmado em osu.edu
- Tibault ReveyrandCNRS Engineer, XLIMEmail confirmado em xlim.fr
- Jonny Leescardiff universityEmail confirmado em cardiff.ac.uk