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Índice h | 20 | 12 |
Índice i10 | 33 | 13 |
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Coautores
- John L. VolakisProfessor, Florida International UniversityEmail confirmado em fiu.edu
- Chi-Chih ChenOhio State University Electrical and Comupter Engineering DepartmentEmail confirmado em osu.edu
- John W. HalloranDepartment of Materials Science and Engineering, University of MichiganEmail confirmado em umich.edu
- Stavros KoulouridisUniversity of Patras, Florida International UniversityEmail confirmado em upatras.gr
- Bas, Umit CelalettinAppleEmail confirmado em usc.edu
- Noboru KikuchiUniversity of Michigan, Toyota Central R&D LabsEmail confirmado em umich.edu
- Safa Salmanohio state universityEmail confirmado em osu.edu
- Zachary WingEmail confirmado em acmtucson.com
- Farooq KhanExiumEmail confirmado em exium.net
- Hongyu ZhouSamsung Research AmericaEmail confirmado em samsung.com
- J. Brian FowlkesProfessor of Radiology and Biomedical Engineering, University of MichiganEmail confirmado em umich.edu
- Paul L CarsonBRS Collegiate Professor of Radiology, University of MichiganEmail confirmado em umich.edu
- Kubilay SertelAssociate Professor, Electrical and Computer Engineering, ElectroScience Laboratory, The Ohio StateEmail confirmado em ece.osu.edu
- Ugur OlgunSnap IncEmail confirmado em snap.com
- Behzad BiglarbegianUniversity of WaterlooEmail confirmado em maxwell.uwaterloo.ca