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Citações | 7980 | 4534 |
Índice h | 43 | 35 |
Índice i10 | 147 | 102 |
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Com base em autorizações de financiamento
Coautores
- Juergen BruggerProfessor of Microengineering (EPFL)Email confirmado em epfl.ch
- Christian BergaudCNRS Researcher, LAAS, University of Toulouse, FranceEmail confirmado em laas.fr
- Ikjoo ByunSamsung ElectronicsEmail confirmado em samsung.com
- Sebastian VolzCNRS - University of TokyoEmail confirmado em iis.u-tokyo.ac.jp
- Jose Ordonez-MirandaCNRS Full Researcher, University of TokyoEmail confirmado em iis.u-tokyo.ac.jp
- Jacques FattaccioliEcole Normale Supérieure, Sorbonne Université, CNRSEmail confirmado em ens.psl.eu
- Jurriaan Huskensprofessor of supramolecular chemistry, University of TwenteEmail confirmado em utwente.nl
- Arum HanProfessor of Texas A&M UniversityEmail confirmado em ece.tamu.edu
- Benjamin SamsonInstitut Langevin, EspciEmail confirmado em espci.fr
- Lionel BuchaillotIEMN UMR8520Email confirmado em univ-lille.fr
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Beomjoon Kim
The University of Tokyo, Institute of Industrial Science
Email confirmado em iis.u-tokyo.ac.jp - Página inicial