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Citações | 3956 | 1973 |
Índice h | 27 | 20 |
Índice i10 | 40 | 29 |
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Coautores
- John Q. XiaoProfessor of Department of Physics and Astronomy, University of DelawareEmail confirmado em udel.edu
- Yunpeng ChenWestern DigitalEmail confirmado em udel.edu
- Weigang WangUniversity of ArizonaEmail confirmado em physics.arizona.edu
- Jun WuPh.D. of Physics, Spectrum Magnetics LLCEmail confirmado em udel.edu
- Xiaoming Kou3MEmail confirmado em mmm.com
- Chaoying NiProfessor of Materials Science and Engineering, University of DelawareEmail confirmado em udel.edu
- Tao WangHuazhong University of Science and TechnologyEmail confirmado em hust.edu.cn
- Halise CelikGraduate student at Physics, university of DelawareEmail confirmado em udel.edu
- Takahiro MoriyamaNagoya UniversityEmail confirmado em mp.pse.nagoya-u.ac.jp
- Qi LuChemical Engineering, Tsinghua UniversityEmail confirmado em tsinghua.edu.cn
- Yunsong XieSamsung Austin SemiconductorEmail confirmado em samsung.com
- C. L. ChienDepartment of Physics and Astronomy, Johns Hopkins UniversityEmail confirmado em jhu.edu
- Michael HarderBritish Columbia Institute of TechnologyEmail confirmado em bcit.ca
- Bai LihuiShandong UniversityEmail confirmado em sdu.edu.cn
- James KolodzeyUniversity of DelawareEmail confirmado em udel.edu
- Chong BiStanford UniversityEmail confirmado em stanford.edu
- Barry ZinkProfessor of Physics, University of DenverEmail confirmado em du.edu
- Matthew JerryUniversity of Notre Dame / Pennsylvania State UniversityEmail confirmado em nd.edu
- T. J. SilvaNational Institute of Standards and TechnologyEmail confirmado em nist.gov
- Tingyong ChenArizona State UniversityEmail confirmado em asu.edu