Obter o meu próprio perfil
Citado por
Todos | Desde 2019 | |
---|---|---|
Citações | 19653 | 3726 |
Índice h | 71 | 33 |
Índice i10 | 236 | 83 |
Acesso público
Ver tudo20 artigos
4 artigos
disponível
não disponível
Com base em autorizações de financiamento
Coautores
- G J ShifletProfessor of Materials Science, University of VirginiaEmail confirmado em virginia.edu
- Terry TrittProfessor of Physics, Clemson UniversityEmail confirmado em g.clemson.edu
- William L. JohnsonCalifornia Institute of TechnologyEmail confirmado em caltech.edu
- Takeshi EgamiProfessor of Materials Science and Physics, University of TennesseeEmail confirmado em utk.edu
- Jack SimonsonFarmingdale State CollegeEmail confirmado em farmingdale.edu
- Wenjie XieTechnische Universität DarmstadtEmail confirmado em mr.tu-darmstadt.de
- SA WolfUniversity of VirginiaEmail confirmado em virginia.edu
- Despina LoucaProfessor of Physics, University of VirginiaEmail confirmado em virginia.edu
- Jian HeClemson UniversityEmail confirmado em clemson.edu
- Mircea R. StanVirginia Microelectronics Consortium (VMEC) Professor, University of VirginiaEmail confirmado em virginia.edu
- J GopalakrishnanSolid State and structural Chemistry Unit, Indian Institute of Science, Bangalore, IndiaEmail confirmado em iisc.ac.in
- Di WuShaanxi Normal University/Southern University of Science and Technology/University of VirginiaEmail confirmado em snnu.edu.cn
- Eugene ChenSamsung, Grandis, Cypress Semiconductor, Motorola, NVEEmail confirmado em samsung.com
- Xinfeng Tang (唐新峰)Wuhan University of TechnologyEmail confirmado em whut.edu.cn
- Dmytro ApalkovSr. Principal Engineer/Sr. Director, Modeling, Samsung Semiconductor R&DEmail confirmado em samsung.com
- anke weidenkaffTU DarmstadtEmail confirmado em mr.tu-darmstadt.de
- Rama VenkatasubramanianJohns Hopkins University Applied Physics LabEmail confirmado em jhuapl.edu
- Jiwei LuAFOSR