Obter o meu próprio perfil
Citado por
Todos | Desde 2019 | |
---|---|---|
Citações | 1179 | 767 |
Índice h | 11 | 9 |
Índice i10 | 12 | 9 |
Acesso público
Ver tudo3 artigos
1 artigo
disponível
não disponível
Com base em autorizações de financiamento
Coautores
- Stefano MaciDipartimento di Ingegneria dell'Informazione e Scienze Matematiche, University of SienaEmail confirmado em dii.unisi.it
- Nader EnghetaH. Nedwill Ramsey Professor, University of PennsylvaniaEmail confirmado em seas.upenn.edu
- Enrica MartiniUniversity of SienaEmail confirmado em dii.unisi.it
- matteo albaniUniversity of SienaEmail confirmado em unisi.it
- Yue LiAssociate Professor, Department of Electronic Engineering, Tsinghua University, Beijing, ChinaEmail confirmado em seas.upenn.edu
- Xingchen YeIndiana University BloomingtonEmail confirmado em indiana.edu
- Christopher B. MurrayProfessor of Chemistry and Materials Science and EngineeringEmail confirmado em sas.upenn.edu
- Iñigo LiberalUniversidad Publica de NavarraEmail confirmado em unavarra.es
- Valerio VignoliProfessore di Elettronica, Università di SienaEmail confirmado em unisi.it
- Tommaso AddabboAssociate Professor, University of SienaEmail confirmado em dii.unisi.it
- Marco MugnainiAssociate Professor University of SienaEmail confirmado em dii.unisi.it
- Raj MittraProfessor, Penn State UniversityEmail confirmado em ieee.org
- Giuseppe VecchiPolitecnico di TorinoEmail confirmado em polito.it
- Massimiliano CasalettiAssociate Professor - Sorbonne Universités UPMC, ParisEmail confirmado em upmc.fr
- Filippo CapolinoUniversity of California, IrvineEmail confirmado em uci.edu
- Alessandro GarufoTNO Defense Security and SafetyEmail confirmado em tno.nl
- Mário SilveirinhaProfessor of Electrical Engineering, University of Lisbon, PortugalEmail confirmado em tecnico.ulisboa.pt
- Danilo ErricoloProfessor, University of Illinois Chicago; Chair, IEEE AP-S Meetings CommitteeEmail confirmado em uic.edu
- Artur DavoyanUniversity of California, Los AngelesEmail confirmado em seas.ucla.edu