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Citações | 2260 | 1514 |
Índice h | 22 | 20 |
Índice i10 | 47 | 40 |
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Coautores
- Cheol Seong HwangProfessor, Department of Materials Science and Engineering, Seoul National UniversityEmail confirmado em snu.ac.kr
- Woongkyu LeeSoongsil UniversityEmail confirmado em ssu.ac.kr
- Youngjin KimKyonggi UniversityEmail confirmado em kyonggi.ac.kr
- Taehwan MoonDepartment of Intelligence Semiconductor Engineering, Ajou UniversityEmail confirmado em ajou.ac.kr
- Seong Keun KimKorea Institute of Science and TechnologyEmail confirmado em kist.re.kr
- Jeong Hwan HanSeoul National University of Science and Technology (SEOULTECH)Email confirmado em seoultech.ac.kr
- Min Hyuk ParkSeoul National UniversityEmail confirmado em snu.ac.kr
- Kyung Jean YoonIntel Santa ClaraEmail confirmado em intel.com
- Jung Ho YoonAssistant Professor at Sungkyunkwan UniversityEmail confirmado em skku.edu
- Gun Hwan KimAssociate Professor, Yonsei UniversityEmail confirmado em yonsei.ac.kr
- Dong Hee HanDept. of Advanced Materials Engineering for Information & Electronics, Kyung Hee UniversityEmail confirmado em khu.ac.kr
- Yeonchoo ChoSamsung Advanced Institute of TechnologyEmail confirmado em samsung.com
- Dae Seon Kwonimec, SNUEmail confirmado em imec.be
- Sang-Soo LeeKorea Institute of Science and TechnologyEmail confirmado em kist.re.kr
- Ji-Hoon AhnHanyang UniversityEmail confirmado em hanyang.ac.kr
- Heesuk KimKorea Institute of Science and TechnologyEmail confirmado em kist.re.kr
- Patrice GONONLTM / Université Grenoble Alpes (UGA)Email confirmado em cea.fr
- Christophe ValleeProfesseur CNSE Albany / Professeur UGAEmail confirmado em albany.edu
- Taeyong EomCenter for Thin Film Materials, Korea Research Institute of Chemical TechnologyEmail confirmado em krict.re.kr
- Hoisung ChungPrincipal Engineer in Samsung ElectronicsEmail confirmado em samsung.com