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Índice h | 22 | 19 |
Índice i10 | 44 | 34 |
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Coautores
- Ron SchrimpfProfessor of Electrical Engineering, Vanderbilt UniversityEmail confirmado em vanderbilt.edu
- Robert A ReedVanderbilt UniversityEmail confirmado em vanderbilt.edu
- Arthur WitulskiResearch Professor Electrical Engineering, Vanderbilt UniversityEmail confirmado em vanderbilt.edu
- Andrew SternbergVanderbilt UniversityEmail confirmado em vanderbilt.edu
- Ruben GARCIA ALIACERNEmail confirmado em cern.ch
- Helmut PuchnerCypress SemiconductorEmail confirmado em cypress.com
- W.H. TrzaskaUniversity of JyväskyläEmail confirmado em jyu.fi
- HajdasPaul Scherrer InstitutEmail confirmado em psi.ch
- Brian SierawskiResearch Associate Professor, Vanderbilt UniversityEmail confirmado em vanderbilt.edu
- Michael AllesVanderbilt UniversityEmail confirmado em vanderbilt.edu
- Robert A. WellerVanderbilt UniversityEmail confirmado em vanderbilt.edu
- Ashok RamanPrincipal Engineer, CFD Research CorporationEmail confirmado em cfdrc.com
- Timo SajavaaraDepartment of Physics, University of Jyväskylä, FinlandEmail confirmado em jyu.fi
- Marek TurowskiAlphacore Inc., USAEmail confirmado em ieee.org
- Charalambos Andreouams OSRAMEmail confirmado em ucy.ac.cy
- Julius GeorgiouUniversity of CyprusEmail confirmado em ucy.ac.cy
- ALESSANDRO PACCAGNELLADipartimento di Ingegneria dell'Informazione, Università di PadovaEmail confirmado em dei.unipd.it
- Valentino LiberaliProfessor of Electronics, Università degli Studi di MilanoEmail confirmado em unimi.it
- Patrick GirardLIRMMEmail confirmado em lirmm.fr
- Arnaud VirazelLIRMM - Univ. Montpellier / CNRSEmail confirmado em lirmm.fr