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Índice h | 7 | 5 |
Índice i10 | 4 | 4 |
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Coautores
- David J. LoveNick Trbovich Professor of ECE, Purdue UniversityEmail confirmado em ecn.purdue.edu
- Boon Loong NgSamsung Research AmericaEmail confirmado em samsung.com
- Peshal NayakEngineer, Technology StandardizationEmail confirmado em samsung.com
- Vishnu V RatnamStaff Research Engineer 2, Samsung Research AmericaEmail confirmado em samsung.com
- Gilwon LeeSamsung Research America, Plano, TXEmail confirmado em samsung.com
- Jeongho JeonSamsung Research America, MV, CAEmail confirmado em samsung.com
- James KrogmeierElectrical and Computer Engineering, Purdue UniversityEmail confirmado em purdue.edu
- Hao ChenSamsung Research AmericaEmail confirmado em samsung.com
- Jing GuoPurdue UniversityEmail confirmado em purdue.edu
- Gary XuSamsung Research AmericaEmail confirmado em samsung.com
- Joonyoung ChoSamsung Research AmericaEmail confirmado em samsung.com
- Jin YuanSamsung Research America - DallasEmail confirmado em samsung.com
- Younsun KimSamsungEmail confirmado em samsung.com
- Taejoon KimProfessor of EECS, The University of KansasEmail confirmado em ku.edu
- Young Han NamSamsungEmail confirmado em samsung.com
- Junil ChoiTenured Associate Professor of KAIST, School of Electrical EngineeringEmail confirmado em kaist.ac.kr
- Thomas MarzettaDistinguished Industry Professor, Department of Electrical and Computer Engineering, New YorkEmail confirmado em nyu.edu
- Ameya AgaskarResearch Scientist, Amazon AlexaEmail confirmado em post.harvard.edu
- Mohamed El GamalCairo University, Faculty of EngineeringEmail confirmado em aucegypt.edu
- Mohamed FoudaNorthwestern UniversityEmail confirmado em u.northwestern.edu