Obter o meu próprio perfil
Citado por
Todos | Desde 2019 | |
---|---|---|
Citações | 7476 | 1765 |
Índice h | 51 | 23 |
Índice i10 | 114 | 55 |
Acesso público
Ver tudo13 artigos
6 artigos
disponível
não disponível
Com base em autorizações de financiamento
Coautores
- Wayne JohnsonSoundside Partners LLCEmail confirmado em soundsidepartners.com
- Fan RenUniversity of Florida, Bell Lab, AT&TEmail confirmado em che.ufl.edu
- Salah BedairNorth Carolina State UnversityEmail confirmado em ncsu.edu
- Stephen PeartonProfessor of Materials Science and Engineering, University of FloridaEmail confirmado em mse.ufl.edu
- Sameer SinghalDirector, CFD Research CorpEmail confirmado em cfdrc.com
- Mark Holtz, Ph.D.Texas State UniversityEmail confirmado em txstate.edu
- Andrei VescanRWTH AachenEmail confirmado em cst.rwth-aachen.de
- K.S. BoutrosEmail confirmado em hrl.com
- Tomás PalaciosMITEmail confirmado em mit.edu
- Brent P. GilaUniversity of FloridaEmail confirmado em ufl.edu
- Byung-Hwan ChuIBM, Samsung, U or FloridaEmail confirmado em ufl.edu
- J. W. ChungSamsung ElectronicsEmail confirmado em samsung.com
- M.NazariVisiting Scholar, Texas State UniversityEmail confirmado em txstate.edu
- Joan RedwingPenn State UniversityEmail confirmado em psu.edu
- Raju Ahmed, Ph. D.Sr R&D Engineer at Micron TechnologyEmail confirmado em micron.com
- Isik KizilyalliARPA-e, U.S.Department of EnergyEmail confirmado em hq.doe.gov
- Cammy R AbernathyUniversity of FloridaEmail confirmado em eng.ufl.edu
- Yiider TsengProfessor of Chemical Engineering, University of FloridaEmail confirmado em ufl.edu
- Anwar SiddiqueProduct Engineer, Intel CorpEmail confirmado em intel.com
- Samuel GrahamUniversity of MarylandEmail confirmado em umd.edu