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Citações | 5227 | 3069 |
Índice h | 39 | 30 |
Índice i10 | 85 | 64 |
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Coautores
- Weidong ZhouUniversity of Texas at ArlingtonEmail confirmado em uta.edu
- Munho KimAssistant Professor of EEE at Nanyang Technological UniversityEmail confirmado em ntu.edu.sg
- John AlbrechtMichigan State UniversityEmail confirmado em egr.msu.edu
- Jian ShiProfessor at Rensselaer Polytechnic InstituteEmail confirmado em rpi.edu
- Uttam SingisettiProfessor, Electrical Engineering, Univeristy at Buffalo (SUNY)Email confirmado em buffalo.edu
- Baishakhi MazumderUniversity at BuffaloEmail confirmado em buffalo.edu
- Quanxi JiaUniversity at Buffalo - The State University of New York; Los Alamos National Laboratory (former)Email confirmado em buffalo.edu
- Hao ZengUniversity at BuffaloEmail confirmado em buffalo.edu
- Peihong ZhangProfessor of Physics, University at BuffaloEmail confirmado em buffalo.edu
- Prathima NalamAssociate Professor, University at BuffaloEmail confirmado em buffalo.edu
- Hongping ZhaoProfessor of Electrical & Computer Engineering, Materials Science & Engineering, OSUEmail confirmado em osu.edu
- Matthias MühleScientist, Fraunhofer USA - Center for Coatings and Diamond TechnologiesEmail confirmado em fraunhofer.org
- Fei (Faye) YaoDepartment of Materials Design and Innovation, University at BuffaloEmail confirmado em buffalo.edu