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Citações | 38851 | 21879 |
Índice h | 98 | 71 |
Índice i10 | 315 | 253 |
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Com base em autorizações de financiamento
Coautores
- Yuhao ZhangCPES, Virginia TechEmail confirmado em vt.edu
- Han WangUniversity of Hong KongEmail confirmado em hku.hk
- Lili YuMeta AIEmail confirmado em mit.edu
- J. W. ChungSamsung ElectronicsEmail confirmado em samsung.com
- Ki Kang KimDepartment of Energy Science, Sungkyunkwan UniversityEmail confirmado em skku.edu
- Bin LuEECS, Massachusetts Institute of TechnologyEmail confirmado em mit.edu
- Steven DenBaarsProfessor of Materials, University of California Santa BarbaraEmail confirmado em engineering.ucsb.edu
- Eva MonroyCEA, IRIG, PHELIQS-NPSC, Grenoble, FranceEmail confirmado em cea.fr
- Siddharth RajanElectrical and Computer Engineering, Ohio State UniversityEmail confirmado em ece.osu.edu
- Hyung-Seok LeeMassachusetts Institute of TechnologyEmail confirmado em etri.re.kr
- Elison MatioliEcole Polytechnique Fédérale de Lausanne (EPFL)Email confirmado em epfl.ch
- Alessandro ChiniProfessor of Electronics, University of Modena and Reggio Emilia, ItalyEmail confirmado em unimore.it
- Stephen W. KaunApeel SciencesEmail confirmado em apeelsciences.com
- Fernando B. NaranjoAssociate Professor at University of AlcaláEmail confirmado em depeca.uah.es
- Madhusudan SinghAssociate Professor at Indian Institute of Technology, DelhiEmail confirmado em umich.edu