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Citações | 3528 | 1237 |
Índice h | 32 | 17 |
Índice i10 | 90 | 40 |
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Coautores
- Makoto NagataProfessor, Kobe UniversityEmail confirmado em cs.kobe-u.ac.jp
- Takayasu SakuraiUniversity of TokyoEmail confirmado em iis.u-tokyo.ac.jp
- Daisuke FujimotoNara Institute of Science and TechnologyEmail confirmado em is.naist.jp
- Yu-ichi HAYASHINara Institute of Science and TechnologyEmail confirmado em is.naist.jp
- Takuji MikiKobe UniversityEmail confirmado em port.kobe-u.ac.jp
- Kazuo SakiyamaThe University of Electro-CommunicationsEmail confirmado em uec.ac.jp
- Naofumi HommaTohoku UniversityEmail confirmado em riec.tohoku.ac.jp
- Kohei MatsudaKobe UniversityEmail confirmado em cs26.scitec.kobe-u.ac.jp
- Kiichi NiitsuKyoto UniversityEmail confirmado em i.kyoto-u.ac.jp
- Jean-Luc DangerLTCI, Télécom Paris, Institut Polytechnique de ParisEmail confirmado em enst.fr
- Shivam BhasinNTU SingaporeEmail confirmado em ntu.edu.sg
- Hideharu AmanoKeio UniversityEmail confirmado em am.ics.keio.ac.jp
- Hiroki MatsutaniDept of ICS, Keio UniversityEmail confirmado em arc.ics.keio.ac.jp
- Yusmeeraz YusofUniversiti Teknologi MalaysiaEmail confirmado em utm.my
- Takeshi SugawaraThe University of Electro-CommunicationsEmail confirmado em uec.ac.jp
- Hayun ChungAssistant Professor of Electronics and Information Engineering, Korea UniversityEmail confirmado em korea.ac.kr
- Jakub BreierSenior Cybersecurity Manager, TTControl GmbH, Vienna, AustriaEmail confirmado em ttcontrol.com
- Zakaria NajmResearch Associate,NTU SingaporeEmail confirmado em ntu.edu.sg
- Lan NanQualcomm Technologies Inc./ University of California, Los AngelesEmail confirmado em ee.ucla.edu
- Won-Joo (Ryan) YunCorporate VP, Samsung ElectronicsEmail confirmado em samsung.com