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Citações | 5993 | 1619 |
Índice h | 41 | 21 |
Índice i10 | 136 | 49 |
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Coautores
- Ron SchrimpfProfessor of Electrical Engineering, Vanderbilt UniversityEmail confirmado em vanderbilt.edu
- Daniel M. FleetwoodProfessor of Electrical Engineering, Vanderbilt UniversityEmail confirmado em vanderbilt.edu
- Robert A ReedVanderbilt UniversityEmail confirmado em vanderbilt.edu
- Arthur WitulskiResearch Professor Electrical Engineering, Vanderbilt UniversityEmail confirmado em vanderbilt.edu
- Andrew SternbergVanderbilt UniversityEmail confirmado em vanderbilt.edu
- Arto JavanainenJyväskylä UniversityEmail confirmado em jyu.fi
- Enxia ZhangUniversity of Central FloridaEmail confirmado em ucf.edu
- Michael AllesVanderbilt UniversityEmail confirmado em vanderbilt.edu
- Lloyd MassengillVanderbilt UniversityEmail confirmado em vanderbilt.edu
- C. ClaeysProfessor KU LeuvenEmail confirmado em kuleuven.be
- Bo Kyoung ChoiMTEGEmail confirmado em mteg.co.kr
- Robert A. WellerVanderbilt UniversityEmail confirmado em vanderbilt.edu
- Steven KosierVanderbilt UniversityEmail confirmado em Vanderbilt.edu
- Brian SierawskiResearch Associate Professor, Vanderbilt UniversityEmail confirmado em vanderbilt.edu
- jerome bochmontpellier universityEmail confirmado em umontpellier.fr
- Chaoming LiuHarbin Institute of TechnologyEmail confirmado em hit.edu.cn
- Ari VirtanenUniversity of JyväskyläEmail confirmado em jyu.fi
- Liang WangBeijing Microelectronics Technology InstituteEmail confirmado em vanderbilt.edu
- Dale P. McMorrowNaval Research LaboratoryEmail confirmado em nrl.navy.mil
- Dunbar P. Birnie, IIIRutgers UniversityEmail confirmado em rutgers.edu